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        放射性表面污染的潔凈測量——COMO170移動式表面污染監測儀

        發布時間:20-12-23 11:20  分類:技術文章   標簽:COMO170,COMO170移動式表面污染監測儀,表面污染監測儀

        放射性表面污染定量測量

        放射性表面污染定量測量是通過探測α/β粒子數,測量物體表面放射性污染水平的快速測量方法。該方法用于測量核與輻射設施正常運行時工作場所及人員放射性沾污水平,也用于測量事故區域的污染水平。

        COMO170移動式表面污染監測儀


        按照*輻射安全管理規定,在易發生放射性污染的場所,應對其地面、設備表面等進行常規污染監測;另外,還應在更衣室和工作區出口處對工作人員體表進行污染監測,防止污染擴散。一般可采用污染監測儀進行直接表面污染測量。必要時,還可采用擦拭法等進行間接測量。


        20世紀50年代末,我國油田開始應用放射性同位素進行示蹤測井。我國油田廣泛使用放射性同位素~(131)Ba微球作為示蹤載體進行示蹤測井,在油田使用非密封型放射源測井實踐過程中,應依據GB 11930-2010 《操作非密封源的輻射防護規定》中4. 1. 2c 條規定,按照*標準、防護與安全*優化原則,控制工作場所各操作區的輻射水平和表面污染程度,同時依照GBZ 118-2002 《油(氣)田非密封型放射源測井衛生防護標準》條7防護監測等進行放射性表面污染監測。但在對使用~(131)Ba 微球示蹤測井的工作場所實際監測表面污染過程中,常因缺乏對核素基本性質的了解,存在使用 alpha、beta 表面沾污儀來測量~(131)Ba 工作場所的表面污染等不科學的現狀。


        在放射性實踐工作中,用 α、β 表面沾污儀(以下簡稱沾污儀)監測放射性表面污染,其目的是及時采取有效措施,使工作人員不受到高于本底的附加劑量,特別是避免造成內照射。 而采用表面沾污儀測量某放射性核素的表面污染水平時,該核素必須滿足如下兩個條件:①發射 α 射線( 粒子),發射 β 射線(粒子),這些射線是從核內發出的。 ②*大 β 能量大于0.15MeV,這是GB/T14056. 1-2008《表面污染測量*部分:第1部分:β發射體(Eβmax>0.15MeV)和α發射體》的要求。

        COMO170移動式表面污染監測儀

        在實踐中,常有使用沾污儀來進行測量131Ba的情況,而由131Ba和其衰變子體133Ba均不發射 β 射線,α、β 表面沾污儀測不到 β 射線,這*是前面所提到的誤區產生原因。



        關于我們NUVIA

        自1993年以來是輻射防護和核測量技術的合作伙伴。NUVIA Instruments GmbH由Heinz Kirsch和GünterWerthmann于1993年成立,當時是SEA GmbH輻射防護,開發和設備公司,位于明斯特附近的杜爾門。兩位創始人都為新公司帶來了在輻射防護和核測量技術方面的多年經驗。

        法國NUVIA

        NUVIA Instruments GmbH開發和制造這些測量設備,用于輻射防護的各種常規和特殊任務。我們的目標是始終通過創新的測量技術為您提供合適的解決方案。


        獲得成功NUVIA Instruments GmbH開發和制造的污染監測儀的基礎以及成功因素是薄層塑料閃爍體的創新檢測器技術-一種無氣檢測器系統COMO170。在療領域,移動式表面污染監測儀還用于檢查過程中的功能,例如使用Technegas發生器進行的肺閃爍顯像。

        COMO170移動式表面污染監測儀

        COMO170帶有塑料閃爍檢測器的移動式表面污染監測儀被用于測量和控制α-和β-/γ污染,這是常規操作輻射防護的一部分。探測器面積為170cm2。帶ZnS涂層的薄層塑料閃爍探測器,帶有聚脂薄膜和蜂窩網格。


        使用開放的放射性物質會導致人員和表面污染。因此,輻射防護條例要求,例如,如果您離開受控區,檢查是否存在表面污染物并確定核素相關極限值。直接和間接的污染測量(通過涂抹測試樣品),均可使用CoMo170移動式表面污染監測儀。


        NUVIA Instruments GmbH借助COMO170移動式表面污染監測儀,不僅為您提供高性能的測量設備,還為您提供了針對污染和間隙測量的整體解決方案,以及面向實踐的附件。


        污染監測儀COMO170由SEA GmbH開發,并由NUVIA批量生產?,F在,我們有超過6,000個與客戶一起使用的CoMo系統。

        COMO170移動式表面污染監測儀

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